Hot-carrier effects in MOS devices

Hot-carrier effects in MOS devices

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Takeda, Eiji 1944-
Outros Autores: Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
Formato: Livro
Idioma:English
Publicado em: San Diego Academic Press c1995.
Assuntos:
Metal oxide semiconductors.
Hot carriers.