Hot-carrier effects in MOS devices

Dettagli Bibliografici
Autore principale:	Takeda, Eiji 1944-
Altri autori:	Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
Natura:	Libro
Lingua:	English
Pubblicazione:	San Diego Academic Press c1995.
Soggetti:	Metal oxide semiconductors. Hot carriers.