Hot-carrier effects in MOS devices

Hot-carrier effects in MOS devices

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Takeda, Eiji 1944-
מחברים אחרים: Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
פורמט: ספר
שפה:English
יצא לאור: San Diego Academic Press c1995.
נושאים:
Metal oxide semiconductors.
Hot carriers.