Hot-carrier effects in MOS devices

Détails bibliographiques
Auteur principal:	Takeda, Eiji 1944-
Autres auteurs:	Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
Format:	Livre
Langue:	English
Publié:	San Diego Academic Press c1995.
Sujets:	Metal oxide semiconductors. Hot carriers.