Hot-carrier effects in MOS devices

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia:	Takeda, Eiji 1944-
Beste egile batzuk:	Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
Formatua:	Liburua
Hizkuntza:	English
Argitaratua:	San Diego Academic Press c1995.
Gaiak:	Metal oxide semiconductors. Hot carriers.