Hot-carrier effects in MOS devices

Podrobná bibliografie
Hlavní autor:	Takeda, Eiji 1944-
Další autoři:	Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
Médium:	Kniha
Jazyk:	English
Vydáno:	San Diego Academic Press c1995.
Témata:	Metal oxide semiconductors. Hot carriers.