Hot-carrier effects in MOS devices

Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Takeda, Eiji 1944-
Altres autors:	Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
Format:	Llibre
Idioma:	English
Publicat:	San Diego Academic Press c1995.
Matèries:	Metal oxide semiconductors. Hot carriers.