Hot-carrier effects in MOS devices

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας:	Takeda, Eiji 1944-
Άλλοι συγγραφείς:	Yang, C. Y.-W. 1948- (Cary Y. -W.), Miura-Hamada, Akemi
Μορφή:	Βιβλίο
Γλώσσα:	English
Έκδοση:	San Diego Academic Press c1995.
Θέματα:	Metal oxide semiconductors. Hot carriers.