Takeda, E., Yang, C. Y., & Miura-Hamada, A. (1995). Hot-carrier effects in MOS devices. Academic Press.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Takeda, Eiji, C. Y.-W Yang, и Akemi Miura-Hamada. Hot-carrier Effects in MOS Devices. San Diego: Academic Press, 1995.
Цитирование MLA (9-е изд.)Takeda, Eiji, et al. Hot-carrier Effects in MOS Devices. Academic Press, 1995.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.