توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

Takeda, E., Yang, C. Y., & Miura-Hamada, A. (1995). Hot-carrier effects in MOS devices. Academic Press.

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

Takeda, Eiji, C. Y.-W Yang, و Akemi Miura-Hamada. Hot-carrier Effects in MOS Devices. San Diego: Academic Press, 1995.

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)

Takeda, Eiji, et al. Hot-carrier Effects in MOS Devices. Academic Press, 1995.