Electron beam testing technology

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς:	Thong, John T. L.
Μορφή:	Βιβλίο
Γλώσσα:	English
Έκδοση:	New York Plenum Press c1993.
Θέματα:	Electron beams > Industrial applications. Scanning electron microscopes. Semiconductors > Testing.