Electron beam testing technology

Manylion Llyfryddiaeth
Awduron Eraill:	Thong, John T. L.
Fformat:	Llyfr
Iaith:	English
Cyhoeddwyd:	New York Plenum Press c1993.
Pynciau:	Electron beams > Industrial applications. Scanning electron microscopes. Semiconductors > Testing.