صورة الغلاف

Electron beam testing technology

التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون آخرون: Thong, John T. L.
التنسيق: كتاب
اللغة:الإنجليزية
منشور في: New York Plenum Press c1993.
الموضوعات:
Electron beams > Industrial applications.
Scanning electron microscopes.
Semiconductors > Testing.