Electron beam testing technology

Detaylı Bibliyografya
Diğer Yazarlar:	Thong, John T. L.
Materyal Türü:	Kitap
Dil:	English
Baskı/Yayın Bilgisi:	New York Plenum Press c1993.
Konular:	Electron beams > Industrial applications. Scanning electron microscopes. Semiconductors > Testing.