Electron beam testing technology

Chi tiết về thư mục
Tác giả khác:	Thong, John T. L.
Định dạng:	Sách
Ngôn ngữ:	English
Được phát hành:	New York Plenum Press c1993.
Những chủ đề:	Electron beams > Industrial applications. Scanning electron microscopes. Semiconductors > Testing.