Lau, J. H. (1993). Thermal stress and strain in microelectronics packaging. Van Nostrand Reinhold.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Lau, John H. Thermal Stress and Strain in Microelectronics Packaging. New York: Van Nostrand Reinhold, 1993.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Lau, John H. Thermal Stress and Strain in Microelectronics Packaging. Van Nostrand Reinhold, 1993.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.