Howes, M. J., & Morgan, D. V. (1981). Reliability and degradation: Semiconductor devices and circuits. Wiley.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Howes, M. J., и D. V. Morgan. Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits. Chichester: Wiley, 1981.
Цитирование MLA (9-е изд.)Howes, M. J., и D. V. Morgan. Reliability and Degradation: Semiconductor Devices and Circuits. Wiley, 1981.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.