Journey to data quality

Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:	Lee, Yang W. (Egilea), Pipino, Leo L. (Egilea), Funk, James D. (Egilea), Wang, Richard Y. (Egilea)
Formatua:	Electronic Resource
Hizkuntza:	English
Argitaratua:	Cambridge, Massachusetts The MIT Press [2006]
Gaiak:	Business > Data processing > Management. Electronic books. Database management > Quality control.
Sarrera elektronikoa:	Click here to access thru EZproxy Click here to access