Integrated circuit failure analysis a guide to preparation techniques

書誌詳細
第一著者: Beck, Friedrich (著者)
その他の著者: Wilson S. Stephen (翻訳家)
フォーマット: 図書
言語:English
German
出版事項: New York Wiley [1997]
シリーズ:Wiley series in quality and reliability engineering
主題: