Thermal stability study on titanium disilicide (tisi2) thin films with titanium nitride (tin) capping using atomic force microscopy

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Philippine Engineering Journal Vol. 23, no. 2 (2002), 49-62
1. Verfasser: Venezuela, Jeffrey DG
Weitere Verfasser: Amorsolo, Jr. Albert V.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: 2002
Schlagworte: