Showing 1 - 1 results of 1 for search 'Yongjoon Kim', זמן שאילתה: 0.01s Refine Results
  1. 1

    A new maximal diagnosis algorithm for interconnect test. מאת Yongjoon Kim

    הוצא לאור ב IEEE Transactions on VLSI systems
    Article

    A new maximal diagnosis algorithm for interconnect test.

כלי חיפוש: