Erakusten 1 - 1 emaitzak -- 1 bilaketa honetara 'Yo-Sheng Lin', Bilaketaren denbora: 0,01s
Findu emaitzak
-
1
An analysis of small-signal gate-drain resistance effect on RF power MOSFETs. nork Yo-Sheng Lin
Argitaratua izan da IEEE Transactions on electron devicesSailkapena: loading...
Kokapena: loading...Artikulua loading...