Zobrazuji výsledky 1 - 1 z 1 pro vyhledávání 'Takeyama, Y.', doba hledání: 0,01 s.
Upřesnit hledání
-
1
A low leakage SRAM macro with replica cell biasing scheme. Autor Takeyama, Y.
Vydáno v IEEE Journal of solid state circuitsSignatura: loading...
Umístění: loading...Článek loading...