Отображение 1 - 1 результаты of 1 для поиска 'Taillefer, C.S', время запроса: 0.01сек. Отмена результатов
  1. 1

    Reducing Measurement Uncertainty in a DSP-Based Mixed-Signal Test Environment Without Increasing Test Time. по Taillefer, C.S

    Опубликовано в: IEEE Transactions on VLSI systems
    Статья

    Reducing Measurement Uncertainty in a DSP-Based Mixed-Signal Test Environment Without Increasing Test Time.

Инструменты поиска: