يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن 'Taillefer, C.S', وقت الاستعلام: 0.01s تنقيح النتائج
  1. 1

    Reducing Measurement Uncertainty in a DSP-Based Mixed-Signal Test Environment Without Increasing Test Time. حسب Taillefer, C.S

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال

    Reducing Measurement Uncertainty in a DSP-Based Mixed-Signal Test Environment Without Increasing Test Time.

أدوات البحث: