検索結果 1 - 2 結果 / 2 検索語 'Sherriff, Mark', 処理時間: 0.01秒
結果の絞り込み
-
1
Utilizing verification and validation certificates to estimate software defect density. 著者: Sherriff, Mark
請求記号: loading...
配架場所: loading...論文 loading... -
2
Early estimation of defect density using an in-process Haskell metrics model. 著者: Sherriff, Mark
請求記号: loading...
配架場所: loading...論文 loading...