Näytetään 1 - 1 yhteensä 1 tuloksesta haulle 'Sghaier, N.', hakuaika: 0,01s Tarkenna hakua
  1. 1

    Study of trapping phenomenon in 4H-SiC MESFETs dependence on substrate purity. Tekijä Sghaier, N.

    Artikkeli

    Study of trapping phenomenon in 4H-SiC MESFETs dependence on substrate purity.

Työkalut: