Đang hiển thị 1 - 1 kết quả của 1 cho tìm kiếm 'Qikai Chen', thời gian truy vấn: 0.01s
Tinh chỉnh kết quả
-
1
Efficient testing of SRAM with optimized march sequences and a novel DFT technique for emerging failures due to process variations. Bằng Qikai Chen
Xuất bản năm IEEE Transactions on VLSI systemsSố hiệu: loading...
Nằm: loading...Bài viết loading...