Отображение 1 - 1 результаты of 1 для поиска 'Qikai Chen', время запроса: 0.01сек.
Отмена результатов
-
1
Efficient testing of SRAM with optimized march sequences and a novel DFT technique for emerging failures due to process variations. по Qikai Chen
Опубликовано в: IEEE Transactions on VLSI systemsШифр: loading...
Местонахождение: loading...Статья loading...