Rezultaty 1 - 1 Rezultaty od 1 Dla wyszukiwania 'Qikai Chen', Czas wyszukiwania: 0,01s
Redukuj rezultaty
-
1
Efficient testing of SRAM with optimized march sequences and a novel DFT technique for emerging failures due to process variations. od Qikai Chen
Wydane w IEEE Transactions on VLSI systemsSygnatura: loading...
Zlokalizowane: loading...Artykuł loading...