প্রদর্শন 1 - 1 ফলাফল এর 1 অনুসন্ধানের জন্য 'Qikai Chen', জিজ্ঞাসা করার সময়: 0.01সেকেন্ড
ফলাফল পরিমার্জন করুন
-
1
Efficient testing of SRAM with optimized march sequences and a novel DFT technique for emerging failures due to process variations. অনুযায়ী Qikai Chen
প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systemsডাক সংখ্যা: loading...
অবস্থিত: loading...প্রবন্ধ loading...