يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن 'Qikai Chen', وقت الاستعلام: 0.01s
تنقيح النتائج
-
1
Efficient testing of SRAM with optimized march sequences and a novel DFT technique for emerging failures due to process variations. حسب Qikai Chen
الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systemsرقم الاستدعاء: loading...
المكان: loading...مقال loading...