Toon 1 - 1 resultaten van 1 Voor zoekopdracht 'Qikai Chen', zoektijd: 0,01s
Verfijn jouw resultaten
-
1
Efficient testing of SRAM with optimized march sequences and a novel DFT technique for emerging failures due to process variations. door Qikai Chen
Gepubliceerd in IEEE Transactions on VLSI systemsPlaatsingsnummer: loading...
Locatie: loading...Artikel loading...