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Fault isolation for nonisolated blocks. por Pomeranz, I.
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Fault isolation for nonisolated blocks. por Pomeranz, I.
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Improving the stuck-at fault coverage of functional test sequences by using limited-scan operations. por Pomeranz, I.
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Test enrichment for path delay faults using multiple sets of target faults. por Pomeranz, I.
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On the use of random limited-scan to improve at-speed random pattern testing of scan circuits. por Pomeranz, I.
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Autoscan a scan design without external scan inputs or outputs. por Pomeranz, I.
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