Đang hiển thị 1 - 1 kết quả của 1 cho tìm kiếm 'Nieh, R.E', thời gian truy vấn: 0.01s
Tinh chỉnh kết quả
-
1
Electrical characterization and material evaluation of zirconium oxynitride gate dielectric in TaN-gated NMOSFETs with high-temperature forming gas annealing. Bằng Nieh, R.E
Xuất bản năm IEEE Transactions on electron devicesSố hiệu: loading...
Nằm: loading...Bài viết loading...