Đang hiển thị 1 - 1 kết quả của 1 cho tìm kiếm 'Loukianova, N.V', thời gian truy vấn: 0.01s
Tinh chỉnh kết quả
-
1
Leakage current modeling of test structures for characterization of dark current in CMOS image sensors. Bằng Loukianova, N.V
Xuất bản năm IEEE Transactions on electron devicesSố hiệu: loading...
Nằm: loading...Bài viết loading...