Zobrazuji výsledky 1 - 1 z 1 pro vyhledávání 'Loukianova, N.V', doba hledání: 0,01 s. Upřesnit hledání
  1. 1

    Leakage current modeling of test structures for characterization of dark current in CMOS image sensors. Autor Loukianova, N.V

    Článek

    Leakage current modeling of test structures for characterization of dark current in CMOS image sensors.

Vyhledávací nástroje: