يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن 'Loukianova, N.V', وقت الاستعلام: 0.01s تنقيح النتائج
  1. 1

    Leakage current modeling of test structures for characterization of dark current in CMOS image sensors. حسب Loukianova, N.V

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on electron devices
    مقال

    Leakage current modeling of test structures for characterization of dark current in CMOS image sensors.

أدوات البحث: