Toon 1 - 2 resultaten van 2 Voor zoekopdracht 'Lanzerotti, M.Y', zoektijd: 0,01s
Verfijn jouw resultaten
-
1
Assessment of on-chip wire-length distribution models. door Lanzerotti, M.Y
Gepubliceerd in IEEE Transactions on VLSI systemsPlaatsingsnummer: loading...
Locatie: loading...Artikel loading... -
2
Interpretation of rent's rule for ultralarge-scale integrated circuit designs, with an application to wirelength distribution models. door Lanzerotti, M.Y
Gepubliceerd in IEEE Transactions on VLSI systemsPlaatsingsnummer: loading...
Locatie: loading...Artikel loading...