Visas 1 - 1 av 1 resultat för sökning 'Jih-Jeen Chen', Sökningstid: 0,01s Förfina resultatet
  1. 1

    Test pattern generation and clock disabling for simultaneous test time and power reduction. av Jih-Jeen Chen

    Artikel

    Test pattern generation and clock disabling for simultaneous test time and power reduction.

Sökverktyg: