Отображение 1 - 1 результаты of 1 для поиска 'Jih-Jeen Chen', время запроса: 0.01сек. Отмена результатов
  1. 1

    Test pattern generation and clock disabling for simultaneous test time and power reduction. по Jih-Jeen Chen

    Статья

    Test pattern generation and clock disabling for simultaneous test time and power reduction.

Инструменты поиска: