Näytetään 1 - 1 yhteensä 1 tuloksesta haulle 'Jih-Jeen Chen', hakuaika: 0,01s Tarkenna hakua
  1. 1

    Test pattern generation and clock disabling for simultaneous test time and power reduction. Tekijä Jih-Jeen Chen

    Artikkeli

    Test pattern generation and clock disabling for simultaneous test time and power reduction.

Työkalut: