يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن 'Jih-Jeen Chen', وقت الاستعلام: 0.01s تنقيح النتائج
  1. 1

    Test pattern generation and clock disabling for simultaneous test time and power reduction. حسب Jih-Jeen Chen

    مقال

    Test pattern generation and clock disabling for simultaneous test time and power reduction.

أدوات البحث: