Toon 1 - 1 resultaten van 1 Voor zoekopdracht 'Fernando, Joel G.', zoektijd: 0,01s Verfijn jouw resultaten
  1. 1

    X-Ray diffraction analysis of MBE-grown InxGa1-xAs/GaAs superlattices on GaAs (100) substrates door Fernando, Joel G.

    Gepubliceerd in 2009
    Thesis

    X-Ray diffraction analysis of MBE-grown InxGa1-xAs/GaAs superlattices on GaAs (100) substrates

Zoekinstrumenten: