Отображение 1 - 1 результаты of 1 для поиска 'Dongwoo Lee', время запроса: 0.01сек. Отмена результатов
  1. 1

    Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits. по Dongwoo Lee

    Опубликовано в: IEEE Transactions on VLSI systems
    Статья

    Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits.

Инструменты поиска: