Erakusten 1 - 1 emaitzak -- 1 bilaketa honetara 'Dongwoo Lee', Bilaketaren denbora: 0,01s Findu emaitzak
  1. 1

    Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits. nork Dongwoo Lee

    Argitaratua izan da IEEE Transactions on VLSI systems
    Artikulua

    Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits.

Bilaketa egiteko lanabesak: