Εμφανίζονται 1 - 1 Αποτελέσματα από 1 για την αναζήτηση 'Dongwoo Lee', χρόνος αναζήτησης: 0,01δλ Περιορισμός αποτελεσμάτων
  1. 1

    Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits. ανά Dongwoo Lee

    Τόπος έκδοσης IEEE Transactions on VLSI systems
    Άρθρο

    Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits.

Εργαλεία αναζήτησης: