প্রদর্শন 1 - 1 ফলাফল এর 1 অনুসন্ধানের জন্য 'Dongwoo Lee', জিজ্ঞাসা করার সময়: 0.01সেকেন্ড ফলাফল পরিমার্জন করুন
  1. 1

    Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits. অনুযায়ী Dongwoo Lee

    প্রকাশিত IEEE Transactions on VLSI systems
    প্রবন্ধ

    Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits.

অনুসন্ধান সাধনীগুলি: