يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن 'Dongwoo Lee', وقت الاستعلام: 0.01s تنقيح النتائج
  1. 1

    Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits. حسب Dongwoo Lee

    الحاوية / القاعدة IEEE Transactions on VLSI systems
    مقال

    Gate oxide leakage current analysis and reduction for VLSI circuits.

أدوات البحث: