Gösterilen 1 - 2 sonuçlar arası kayıtlar. 2 sonuç. Aranan kelime 'Cherns, David', Sorgu süresi: 0.01s
Sonuçları Daraltın
-
1
Electron microscopy and analysis 1995 proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, University of Birmingham, 12-15 September 1995 Inst...
Baskı/Yayın Bilgisi 1995Yer Numarası: loading...
Bulunduğu Yer: loading...Kitap loading... -
2
Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy
Baskı/Yayın Bilgisi 1989Yer Numarası: loading...
Bulunduğu Yer: loading...Kitap loading...