Εμφανίζονται 1 - 2 Αποτελέσματα από 2 για την αναζήτηση 'Cherns, David', χρόνος αναζήτησης: 0,01δλ
Περιορισμός αποτελεσμάτων
-
1
Electron microscopy and analysis 1995 proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, University of Birmingham, 12-15 September 1995 Inst...
Έκδοση 1995Ταξιθετικός Αριθμός: loading...
Βρίσκεται σε: loading...Βιβλίο loading... -
2
Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy
Έκδοση 1989Ταξιθετικός Αριθμός: loading...
Βρίσκεται σε: loading...Βιβλίο loading...