Mostrando 1 - 2 Resultados de 2 Para Buscar 'Chandra, A.', tiempo de consulta: 0.01s
Limitar resultados
-
1
A unified approach to reduce SOC test data volume, scan power and testing time. por Chandra, A.
Número de Clasificación: loading...
Ubicado: loading...Artículo loading... -
2
System-on-a-chip test-data compression and decompression architectures based on Golomb codes. por Chandra, A.
Número de Clasificación: loading...
Ubicado: loading...Artículo loading...